A Structural Study of Compositionally Modulated NbTi Films

Wang Yuan-hang,Hu An,Yu Zheng,Li Xiang-jin,Feng Duan
DOI: https://doi.org/10.1002/pssa.2210960202
1986-01-01
Abstract:A series of compositionally modulated Nb-Ti films are prepared by magnetron sputtering, with modulation wavelengths ranging from 1.5 to 100 nm. X-ray diffraction technique and theoretical simulation are used to investigate the structure of the films. The positions and intensities of dif-fraction peaks are in agreement with theoretical calculations. Eine Reihe von zusammensetzungsmodulierten Nb-Ti-Schichten mit Modulationswellenlängen von 1,5 bis 100 nm werden mittels Magnetron-Aufsprühverfahren hergestellt. Röntgenbeugungs-technik und theoretische Simulation werden zur Untersuchung der Struktur der Schichten heran-gezogen. Die Lagen und Intensitäten der Beugungsmaxima sind in Übereinstimmung mit theo-retischen Berechnungen.
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