Conception et exploitation d'un banc d'auto-caractérisation pour la prévision de la fiabilité des circuits numériques programmables

Mohammad Naouss
2016-10-20
Abstract:Les circuits logiques programmables (FPGA) beneficient des technologies les plus avances de noeuds CMOS, afin de repondre aux demandes croissantes de haute performance et de faible puissance des circuits integres numeriques. Cela les rend sensibles aux differents mecanismes de degradations a l'echelle nanometrique. Dans cette these, nous nous concentrons sur le vieillissements des tables de correspondances (LUT) sur FPGA. L'utilisation de la derniere technologie d'echelle reduite et la flexibilite de l'architecture du FPGA, permettent de developper un nouveau banc de test a faible cout pour evaluer la fiabilite en fonction de conditions d'utilisations. Ce banc de test peut-etre implante sur plusieurs vehicules du tests et suivis en temps reel par un logiciel de surveillance developpe pendant cette these. Nous avons caracterise la degradation de temps de propagation de la LUT en fonction du rapport cyclique et la frequence des vecteurs de stress. Nous avons identifie egalement que le rapport cyclique affecte fortement le temps en descente et moderement le temps en montee de LUT en raison du mecanisme de vieillissement NBTI, tandis que HCI affecte a la fois les deux temps de propagation. En outre, deux modeles semi-empiriques de la degradation du temps de propagation de la LUT en raison de NBTI et HCI sont proposes dans ce travail. D'autre part, nous avons analyse l'influence de la tension de seuil et la mobilite du transistor sur la degradation de temps de propagation de la LUT en utilisant le modele de simulation du transistor. Enfin, un modele de degradation de la LUT prenant en compte l'architecture supposee de la LUT est propose. Ce travail est ideal pour modeliser la degradation des FPGA au niveau des portes.
Physics
What problem does this paper attempt to address?