OnhWafer Crystallization of UltralowhκPure Silica Zeolite Films

Yan Liu,Christopher M. Lew,Minwei Sun,Rui Cai,Junlan Wang,Grant M. Kloster,Boyan Boyanov,Yushan Yan
DOI: https://doi.org/10.1002/ange.200900461
2009-01-01
Angewandte Chemie
Abstract:Höhere Ziele : Ein waferbasierter Kristallisationsprozess zur Herstellung von MEL‐Filmen aus Silica‐Zeolith stellt eine Verbesserung gegenüber den üblichen Hydrothermalverfahren dar. Die streifenfreien MEL‐Filme (rechts) sind durch Schleuderbeschichtung erhaltenen Filmen (links) hinsichtlich κ ‐Wert, mechanischen Eigenschaften, Rauigkeit, Mesoporengröße und Größenverteilung überlegen. magnified image
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